روش فلورسانس پرتو يا آزمايش XRF

روش فلورسانس پرتو x (XRF) يا طيف سنجي پرتو x يکي از روشهاي آناليز عنصري است که امروزه از آن به طور وسيعي در صنعت و مراکز پژوهشي استفاده مي شود. اين روش به ويژه به خاطر سرعت زياد در شناسايي عنصري براي برخي از صنايع ضروري است. در اين روش پرتو x به نمونه مجهول تابيده و در اثر برانگيختگي اتمها باعث پديد آمدن پرتو x ثانويه مي شود سپس با تعيين طول موج يا انرژي پرتو ايکس ثانويه عنصر يا عنصرهاي مورد نظر را مي توان شناسايي کرد.

◄ اساس کار:
پرتو خروجي از لوله پديد آورنده پرتوx به نمونه مي تابد و در اثر بمباران، الکترونهاي موجود در مدار داخلي اتم خارج شده و جايگزيني اين الکترونها از مدارهاي بالايي، سبب پديد آمدن پرتو x يا همان پرتو مشخصه خواهد شد.
شکل اجزاي اين دستگاه در شکل 1 نشان داده شده است. پرتو x خروجي از نمونه که در حقيقت پرتو مشخصه عنصرهاي موجود در نمونه است پس از عبور از جمع کننده به سوي يک بلور هدايت مي شود.

◄ اجزاي دستگاه XRF :
لوله پديد آورنده پرتو x : دردستگاه هاي مختلف XRF ، از لوله هاي گوناگوني استفاده مي شود. تفاوت آنها در توان استفاده شده در لوله ، محل قرار گرفتن پنجره برليومي و نوع سرمايش مي باشد.
پنجره خروجي مي تواند در ديواره کناري و يا در انتهاي لوله قرار داشته باشد. در اين نوع لوله آند به صورت يک لايه نازک بر روي پنجره برليومي قرار دارد. نمونه اي از اين نوع لوله ، در شکل زير نشان داده شده است. جنس آند در دستگاه XRF به طول معمول فلز کرم، موليبدن، رنيم يا تنگستن است. وظيفه لوله پرتو x پديد آوردن پرتوي با شدت زياد براي برانگيختگي همه عنصر هاي موجود در نمونه مجهول است. به عبارت ديگر ، طيف پرتو خروجي از لوله ، بايد طول موج کمتري از لبه جذب عنصرهاي موجوددر نمونه مجهول داشته باشد

منبع : iustge.blogfa.com

روش فلورسانس پرتو يا آزمايش XRF

مطالب مشابه :

طيف سنجي پراش پرتو ايکس (XRD) و طيف سنجي فلورسانس اشعه ايکس (XRF)

طيف سنجي پراش پرتو ايکس (XRD)

طيف‌سنجي فلورسانس اشعه ايکس

طيف سنجي پراش پرتو ايکس (XRD)

روش فلورسانس پرتو يا آزمايش XRF

شیمی تجزیه دستگاهی(تالیف christian)

روش فلورسانس پرتو يا آزمايش XRF